Zum Hauptinhalt springen Zur Suche springen Zur Hauptnavigation springen
Das RF-LCR-Messgerät Chroma 11090-030 bietet eine Lösung für die Hochfrequenzmessung und -analyse passiver Bauelemente, wie etwa SMD-Chip-Induktivitäten und HF-Filter. Mit einer Prüffrequenz von bis zu 300 MHz deckt das Gerät nicht nur den wachsenden Bedarf an Prüfungen bei Nennfrequenz für Bauteile wie POL- oder kleine DC-DC-Wandler ab, sondern ermöglicht auch die Erkennung von Qualitätsabweichungen, die erst bei extrem hohen Frequenzen sichtbar werden. Zudem erfüllt es die gängigen Anforderungen an Impedanzmessungen bei 100 MHz für Bauteile wie EMV-Filter und Ferritperlen.

Serie 11090
Messfrequenzbereich 100 kHz - 300 MHz
Kategorie Messgeräte
Beschreibung

• Messparameter: Z, Oz, Y, Θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 
• Testfrequenzen: 100 kHz - 300 MHz 
• Hohe Messgeschwindigkeit: 0,5 ms
• Messbereich: 100mΩ-5kΩ 
• Messgeschwindigkeit: 0.5/0.9/2.1/3.7 (ms) 
• Grundgenauigkeit: ± 0.8% % (typisch ± 0.45%) 
• Testsignal: Messmodi: Punkt/Liste 
• Überwachungsfunktion für Testsignal (Vm, Im) 
• Komparator- und Sortierfunktionen (13 Depots) 
• Kontaktprüfung (Rdc 0,1 Ω - 100 Ω bei max. 1 mA) 
• Funktionen für Korrekturen von offenen/ kurzgeschlossenen Schaltungen und Lastausgleich 
• Standardschnittstellen: Handler, RS-232C, GPIB, LAN, USB, USB (USBTMC)
• Orientierungshilfe für Kalibrierungs-/Ausgleichstatus 
• Kontaktprüfung für magnetische Komponenten über Rdc 
• Vergleich mehrerer Parameter und Depotsortierung Mehrpunktetest (—401 Punkte) und Kurvenzeichnung
• Eindeutige und geführte Betriebsvorgänge
• SMD-Testvorrichtung mit schneller Betriebsweise (Patent TW M621845 / CN 216013502U)


Hersteller Chroma
Abmessungen 235 x 425 x 277 mm
Grundgenauigkeit ± 0.8% % (typ. ± 0.45%)
Messbereiche Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q | 100 mΩ - 5 kΩ
Produktinformationen " 11090-030 | HF/RF-LCR-Meter | Chroma"
Serie
11090
Modell
11090-030
Weiterführende Links zu " 11090-030 | HF/RF-LCR-Meter | Chroma"